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【团体标准】 人工智能芯片面向芯粒的卡间互联接口测试方法

本网站 发布时间: 2026-02-28
  • T/CCIASC 0055-2026
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围:

当前国内外人工智能GPU厂家通过Link+Switch方案实现GPU卡间互联,但当前还处于起步、多种技术方案并存的阶段,技术路线演进存在不确定性。不同互联技术的对应方案集成到GPU芯片,都会增加GPU芯片集成难度,也给GPU的互联开发带来挑战,不利于行业发展。本测试方法对标准化提供GPU主die和IOdie的互联方案各层要求完成测试,测试相关分层有:协议层的互通,链路层互通,物理层互通,完成GPU和网络连接互通,实现多种互联技术方案求同存异,降低GPU集成复杂度,消除GPU互联技术路线选择风险,促进行业发展。1.协议层互通验证:定义实现总线事务和IODie可识别帧数据格式的转换事宜,总线宜采用AXI总线接口,或AXI-Stream接口,即通过AXI实现GPU和芯粒之间协议层的互通。IOdie根据数据格式,选择网络技术(如:CLink/GLink/ALink/OISA/Other),完成GPU访问操作到网络数据包的转换。测试协议层AXI总线接口互通,AXI-Stream接口互通。2.链路层互通:实现链路层功能,包括链路协商、管理等交互。定义链路层双侧工作频率,边带访问。双侧链路层均要求支持统一互联接口技术规范的要求,使用规定数据帧格式,即支持不同物理层供应商上承载的Flit格式,以实现数据链路层互通。测试链路层要求的功能。3.物理层互通:定义物理层的相关电气特性及BumpMap,定义封装芯粒和PHY摆放位置,实现物理层互通;封装技术包含先进封装和标准封装。先进封装可用于通道距离很短,性能优化的应用场景,标准封装用于低成本和长距离应用场景。测试物理层不同形态参数时满足链路层互通要求的功能。

基本信息

  • 标准号:

    T/CCIASC 0055-2026

  • 标准名称:

    人工智能芯片面向芯粒的卡间互联接口测试方法

  • 英文名称:

    Artificial intelligence chips - test method of inter-card interface for chiplets
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2026-02-27
  • 实施日期:

    2026-03-06
  • 出版语种:

标准分类号

  • 标准ICS号:

    35.200
  • 中标分类号:

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

  • 字数:

  • 开本:

其他信息

  • 起草人:

    朱仕银、刘新民、万晓兰、贾琳琳、李峰、聂一、张乾、邸绍岩、王骏成、刘畅、尹航、雷恺、魏莉、曾敏、李军军、丁同浩、孙志峰、罗彬、赵畅、杨朋霖、郑卫华、付庆平、董剑、于彬、孔宁、司照凯、曹宜宁
  • 起草单位:

    新华三技术有限公司、中国信息通信研究院、中国电子技术标准化研究院、上海壁仞科技股份有限公司、沐曦集成电路(上海)股份有限公司、格通智联技术(上海)有限公司、格创通信(浙江)有限公司、上海天数智芯半导体股份有限公司、海光信息技术有限公司、太初(无锡)电子科技有限公司、北京曦望芯科智能科技有限公司、北京谦合益邦云信息技术有限公司、上海合见工业软件集团有限公司、芯耀辉科技股份有限公司、上海晟联科半导体有限公司、芯潮流(珠海)科技有限公司
  • 归口单位:

    中国计算机行业协会
  • 提出部门:

    中国计算机行业协会
  • 发布部门:

    中国计算机行业协会