【国家标准】晶体硅光伏组件　光热诱导衰减(LETID)试验　检测

本网站发布时间： 2026-02-09

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标准简介

本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。
本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。

标准号：
GB/Z 119-2026
标准名称：
晶体硅光伏组件　光热诱导衰减(LETID)试验　检测
英文名称：
C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection
标准状态：
现行
发布日期：
2026-01-04
实施日期：
出版语种：
中文简体

起草人：
许涛、庄天奇、葛华云、黄婷、李振国、裴会川、郭素琴、冯春暖、刘亚锋、徐敏伟、陈磊
起草单位：
常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司
归口单位：
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC 90)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

【国家标准】 晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测