【国家标准】微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析

本网站发布时间： 2025-11-03

GB/T 28634-2012
被代替
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM)的波谱仪（WDS)，通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
内容包括：
——定量分析原理；
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；
——仪器的一般要求；
——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。
本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。

读者对象：

从事微束分析的技术人员

基本信息

标准号：
GB/T 28634-2012
标准名称：
微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析
英文名称：
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准状态：
被代替
发布日期：
2012-07-31
实施日期：
2013-02-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.99
中标分类号：
N53

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析》（英文版) IDT 等同采用

出版信息

页数：
16 页
字数：
23 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
曾毅、李香庭、吴伟
起草单位：
中国科学院上海硅酸盐研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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