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- T/TAIA 001-2024 工业硅酸钾钠氧化钾和氧化钠含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
【团体标准】 工业硅酸钾钠氧化钾和氧化钠含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
本网站 发布时间:
2024-02-23
- T/TAIA 001-2024
- 现行
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标准简介
适用范围:
本文件规定了采用电感耦合等离子体发射光谱法测定工业硅酸钾钠中氧化钾和氧化钠含量的方法。本文件适用于工业硅酸钾钠中氧化钾和氧化钠含量的测定。测定范围:氧化钾1.00%~25.0%,氧化钠1.00%~15.0%。
标准号:
T/TAIA 001-2024
标准名称:
工业硅酸钾钠氧化钾和氧化钠含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法
英文名称:
Sodium-potassium silicate for industrial use—Determination of potassium oxide and sodium oxide—Inductively coupled plasma optical emission spectrometry标准状态:
现行-
发布日期:
2024-02-06 -
实施日期:
2024-02-06 出版语种: