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【国家标准】 晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量

本网站 发布时间： 2019-05-01
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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 18210-2000

  • 标准名称：

    晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量

  • 英文名称：

    Crystalline silicon photovoltaic(PV) array-on-site measurement of I-V characteristics

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2000-10-17

  • 实施日期：

    2001-05-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    27.160

  • 中标分类号：

    K83

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    11 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    由志德 李涛勇

  • 起草单位：

    信息产业部电子第十八研究所 、秦皇岛市华美光电设备总公司

  • 归口单位：

    全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

  • 提出部门：

    中华人民共和国信息产业部

  • 发布部门：

    国家质量技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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