【国家标准】光学系统波前像差的测定　夏克-哈特曼光电测量法

本网站发布时间： 2025-02-05

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标准简介

本文件描述了采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的测量，也适用于光学零件面形偏差的测量。

标准号：
GB/T 44221-2024
标准名称：
光学系统波前像差的测定　夏克-哈特曼光电测量法
英文名称：
Determination of wavefront aberration in optical systems—Electro-optical Shack-Hartmann method
标准状态：
现行
发布日期：
2024-07-24
实施日期：
2025-02-01
出版语种：
中文简体

起草人：
史国华、邢利娜、何益、杨金生、蔡建奇、王璞、刘春雨、韩森、洪宝玉、冯长有、包明帝、叶虹、谢桂华、伍开军、沈晨雁、郝华东
起草单位：
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所、中国科学院光电技术研究所、中国标准化研究院、中国科学院空天信息创新研究院、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、苏州慧利仪器有限责任公司、中国计量科学研究院、长春奥普光电技术股份有限公司、浙江舜宇光学有限公司、成都科奥达光电技术有限公司、苏州一光仪器有限公司、舟山市质量技术监督检测研究院
归口单位：
全国光测量标准化技术委员会(SAC/TC 487)
提出部门：
中国科学院
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

【国家标准】 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法