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【国家标准】 光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法

本网站 发布时间: 2016-07-01
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适用范围:

GB/T 26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T 12085-2010标准中没有描述。这些方法通常与GB/T 26332.3-2015附录A中的测试方法组成试验序列共同使用。本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 26332.4-2015

  • 标准名称:

    光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法

  • 英文名称:

    Optics and photonics—Optical coatings—Part 4:Specific test methods
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2015-12-10
  • 实施日期:

    2016-07-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    17.180
  • 中标分类号:

    N30

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法》(英文版) IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    20 页
  • 字数:

    26 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    王瑞生 费书国 阴晓俊 王占山 程鑫彬 赵帅锋 马敬 章岳光 顾培夫 孙龙 胡雯雯 邓淞文 王锋 徐秋玲 殷波 高鹏 王忠连
  • 起草单位:

    沈阳仪表科学研究院有限公司、同济大学、浙江大学、大连化学物理研究所、沈阳汇博光学公司、杭州科汀光学技术有限公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心
  • 归口单位:

    中国机械工业联合会
  • 提出部门:

    中国机械工业联合会
  • 发布部门:

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划