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【国家标准】 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法

本网站 发布时间: 2024-01-02
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适用范围:

本文件描述了集成电路(IC)对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。

基本信息

  • 标准号:

    GB/T 42968.8-2023

  • 标准名称:

    集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法

  • 英文名称:

    Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8:Measurement of radiated immunity—IC stripline method
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2023-09-07
  • 实施日期:

    2024-01-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    31.200
  • 中标分类号:

    L56

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

    《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数:

    24 页
  • 字数:

    41 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    付君 崔强 方文啸 刘小军 吴建飞 乔彦彬 郑益民 叶畅 杨红波 李楠 刘星汛 梁吉明 白云 张艳艳 朱赛 靳冬 刘佳 陈燕宁 邵鄂 周香 黄雪梅 郑泓 李德鹏 吕飞燕 刘易勇 贺伟 陈勇志 陈梅双
  • 起草单位:

    中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想(北京)有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司
  • 归口单位:

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
  • 提出部门:

    中华人民共和国工业和信息化部
  • 发布部门:

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 推荐标准
  • 国家标准计划