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【国家标准】 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
本网站 发布时间:
2024-01-02
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标准号:
GB/T 42968.8-2023
标准名称:
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
英文名称:
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8:Measurement of radiated immunity—IC stripline method标准状态:
现行-
发布日期:
2023-09-07 -
实施日期:
2024-01-01 出版语种:
中文简体
起草人:
付君 崔强 方文啸 刘小军 吴建飞 乔彦彬 郑益民 叶畅 杨红波 李楠 刘星汛 梁吉明 白云 张艳艳 朱赛 靳冬 刘佳 陈燕宁 邵鄂 周香 黄雪梅 郑泓 李德鹏 吕飞燕 刘易勇 贺伟 陈勇志 陈梅双起草单位:
中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想(北京)有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)提出部门:
中华人民共和国工业和信息化部发布部门:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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