本标准规定了硅酸盐中微颗粒铁的识别及其含量测量的俄歇电子能谱方法。本标准适用于30 nm 以上微颗粒铁的测量。

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GB/T 37664的本部分规定了进行发光纳米材料量子效率可重复测量时遵循的步骤和注意事项。
本部分适用的发光纳米材料包括量子点、纳米荧光粉、纳米粒子、纳米纤维、纳米晶、纳米片和包含这些材料的结构体。发光纳米材料既可以分散在液相（例如，胶体量子点）也可以分散在固相（例如，含发光纳米粒子的纳米纤维）。本部分既规定了液态发光纳米材料量子效率的相对测量方法，也规定了固态和液态纳米材料量子效率的绝对测量方法。

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本标准规定了测定化工产品中砷的通用方法。
本标准中的二乙基二硫代氨基甲酸银光度法适用于砷含量在1 μg～20 μg范围内的溶液测定，原子荧光光度法适用于砷含量在0.005 μg～2.5 μg范围内的溶液测定。

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本标准规定了分子吸收光谱法的术语。 本标准适用于分子吸收光谱法。

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本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。

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本指导性技术文件规定了识别X射线或者电子激发的俄歇谱中的化学效应以及把它们用于化学表征的方法准则。

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本指导性技术文件规定了使用液相色谱-质谱联用分析方法进行定性定量分析的通用规则。
本指导性技术文件适用于使用液相色谱-质谱联用分析方法对化合物定性定量分析的一般要求。

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本标准表述了如何描述一台俄歇电子能谱仪的特定性能。

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本标准规定了涂料中全氟辛酸（PFOA）及其盐的高效液相色谱串联质谱测定方法。
本标准适用于涂料中全氟辛酸（PFOA）及其盐的测定。
本标准的方法检出限以全氟辛酸（PFOA）计为质量分数0.000 2％。

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本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1 μm的仪器。栅格法适合于横向分辨率预期值大于20 nm，小于1 μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50 nm的仪器。
附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。

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本标准规定了常规分析中一种评估X射线光电子能谱仪强度标的重复性和一致性的方法，采用非单色Al/Mg或单色Al X射线源。本标准只适用于装有溅射离子枪的仪器。本标准不做强度/能量响应函数的校准。此校准应由仪器制造厂家或其他合格机构完成。本标准提供的数据用于评估和确认仪器使用期间强度/能量响应函数保持恒定的准确度。本标准提供了一些可能会影响一致性的仪器设置指导意见。

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本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

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本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求。本标准适用于表面化学分析设备的用户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求，特别是俄歇电子能谱（AES）、二次离子质谱（SIMS）和X射线光电子能谱（XPS或ESCA）。
本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术，如TXRF。对于特定的实例，特定的样品，需要更加注意。

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本文件规定了俄歇电子能谱仪动能能量标不确定度为3 eV时的校准方法，用于识别表面常规元素。另外，本文件还规定了一种用于确定校准周期的方法。本文件适用于直接模式或微分模式的仪器分辨率小于或等于0.5%，微分模式调制幅度的峰值为 2 eV，配有惰性气体离子枪或其他样品清洁方法，具有4 keV或更高束能电子枪的谱仪。

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本文件界定了表面化学分析中通用术语和谱学领域中的术语，附录A给出了非表面分析专业的部分常用术语。

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