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【国家标准】 表面化学分析　原子力显微术　二硫化钼片层材料厚度测量方法

本网站 发布时间： 2021-12-01
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适用范围：

本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。
本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量,测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100 nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 40128-2021

  • 标准名称：

    表面化学分析　原子力显微术　二硫化钼片层材料厚度测量方法

  • 英文名称：

    Surface chemical analysis—Atomic force microscopy—Test method for thickness of the two-dimensional layered molybdenum disulfide nanosheets

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2021-05-21

  • 实施日期：

    2021-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.40

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    24 页

  • 字数：

    36 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    朱晓阳、朱君、常怀秋、齐笑迎、蔡潇雨、周素红

  • 起草单位：

    国家纳米科学中心、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司、上海市计量测试技术研究院、北京粉体技术协会

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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  • 推荐标准

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