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GB/T 45325-2025 贵金属键合丝热影响区长度测定 扫描电镜法 即将实施 发布日期 :  2025-02-28 实施日期 :  2025-09-01

本文件描述了各类贵金属键合丝(以下简称“键合丝”)热影响区长度的扫描电镜测定方法。
本文件方法一适用于键合金丝热影响区长度的测定。
本文件方法二适用于直径不超过50 μm的纯金属、合金或复合类键合丝的热影响区长度测定。

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GB/T 45324-2025 锂离子电池正极材料粉末电阻率的测定 即将实施 发布日期 :  2025-02-28 实施日期 :  2025-09-01

本文件描述了采用四探针法与两探针法测定锂离子电池正极材料粉末电阻率的方法。
本文件适用于锂离子电池正极材料粉末电阻率的测定。

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GB/T 41079.3-2024 液态金属物理性能测定方法 第3部分:黏度的测定 即将实施 发布日期 :  2024-10-26 实施日期 :  2025-05-01

本文件描述了用单筒同轴圆筒旋转法测定液态金属表观黏度的方法。
本文件适用于在室温至200 ℃范围内进行液态金属表观黏度的测定。温度范围根据所使用的仪器进行扩展。

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GB/T 38786-2020 镁及镁合金铸锭纯净度检验方法 现行 发布日期 :  2020-06-02 实施日期 :  2021-04-01

本标准规定了镁及镁合金铸锭的外观检查、化学成分、纯净度检验和试验报告等内容。
本标准适用于镁及镁合金铸锭的纯净度检验。

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GB/T 38804-2020 金属材料高温蒸汽氧化试验方法 现行 发布日期 :  2020-06-02 实施日期 :  2020-12-01

本标准规定了金属材料高温蒸汽氧化试验方法的术语和定义、试验原理、试验装置及条件、试样、试验步骤、结果分析和试验报告。本标准适用于金属材料在高温蒸汽条件下的氧化试验。

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GB/T 38980-2020 锆管探伤对比试样人工缺陷尺寸测量方法 现行 发布日期 :  2020-07-21 实施日期 :  2021-06-01

本标准规定了锆管探伤用对比试样人工缺陷(人工槽/通孔)尺寸的复型及显微测量方法。本标准适用于锆管超声、涡流等无损探检测对比试样上人工槽/通孔尺寸的测量。其他金属对比试样中的类似人工缺陷尺寸的测量也可参照执行。

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本文件规定了锂离子电池正极材料锰酸锂的放电平台容量比率及循环寿命测试方法。本文件适用于锂离子电池正极材料锰酸锂放电平台容量比率及循环寿命的测试。

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本文件规定了锂离子电池正极材料锰酸锂的首次放电比容量及首次充放电效率测试方法。本文件适用于锂离子电池正极材料锰酸锂首次放电比容量及首次充放电效率的测试。

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本文件描述了Nb-Ti与Nb3Sn复合超导体扭距测量的原理、化学药品、仪器设备、样品制备、测量步骤、试验数据处理、测量不确定度和测试报告。
本文件适用于直径在0.2 mm~2 mm(或与之截面积等同的矩形),超导丝直径在6 μm~200 μm,扭距在5 mm~50 mm,基体为铜的一体化结构NbTi与Nb3Sn多丝复合超导体扭距的测量。
本文件不适用于表面有镀层或表面覆盖不可被硝酸溶蚀镀层的超导体。
注1: 使用本方法测量横截面形状、面积、超导丝直径和扭距超出本范围的复合超导体,不确定度将增大。
注2: 经过适当修正,本文件给出的测量方法适用于其他类似结构的复合超导体。

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本文件规定了两种流速测定方法,用于测定一定数量的加热后的粉末混合料通过一个固定孔径的漏斗的时间(流速),这种粉末主要是适用于温压的钢铁粉末。
方法A使用孔径为2.5 mm的漏斗,样品量为50 g,主要依据ISO 4490中规定的方法。该方法只适用于在加热的条件下能自由流过2.5 mm孔径的粉末混合料。
方法B使用孔径为5 mm的漏斗,样品量为150 g。
这两种方法的试验温度范围均为60 ℃~180 ℃,相关方协商确定后可选择其中一种。

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GB/T 41079.2-2022 液态金属物理性能测定方法 第2部分:电导率的测定 现行 发布日期 :  2022-10-12 实施日期 :  2023-02-01

本文件描述了用直流四探针法测定液态金属电阻率和电导率的方法。
本文件适用于在室温至300 ℃范围内进行液态金属电阻率和电导率的测定。

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GB/T 41155-2021 烧结金属材料(不包括硬质合金)疲劳试样 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件规定了用于通过压制和烧结制备疲劳试样的模具模腔的尺寸,使用该模具制备的试样尺寸以及通过烧结和粉末锻造材料机加工试样的尺寸。
本文件适用于所有的烧结金属及合金(不包括硬质合金)。

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本文件描述了锂离子电池正极材料磷酸铁锂首次放电比容量及首次充放电效率测试方法。本文件适用于锂离子电池正极材料磷酸铁锂首次放电比容量及首次充放电效率的测试。

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GB/T 42271-2022 半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 现行 发布日期 :  2022-12-30 实施日期 :  2023-04-01

本文件描述了半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法。
本文件适用于测量电阻率范围为 1×10 5 Ω·cm~1×1012Ω·cm的半绝缘碳化硅单晶片。

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GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件描述了激光散射法测试碳化硅外延片表面缺陷的方法。
本文件适用于4H-SiC外延片的表面缺陷测试。

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