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GB/T 2523-1990 冷轧薄钢板(带)表面粗糙度测量方法 被代替 发布日期 :  1990-07-20 实施日期 :  1991-06-30

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GB/T 14847-1993 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法 被代替 发布日期 :  1993-12-24 实施日期 :  1994-09-01

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GB/T 15077-1994 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 被代替 发布日期 :  1994-05-11 实施日期 :  1994-12-01

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GB/T 15078-1994 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 被代替 发布日期 :  1994-05-11 实施日期 :  1994-12-01

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GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法 被代替 发布日期 :  1997-06-03 实施日期 :  1997-12-01

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GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 被代替 发布日期 :  1989-03-31 实施日期 :  1990-02-01

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GB/T 1558-1997 硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法 被代替 发布日期 :  1997-12-22 实施日期 :  1998-08-01

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GB/T 16596-1996 确定晶片坐标系规范 被代替 发布日期 :  1996-11-04 实施日期 :  1997-04-01

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GB/T 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法 被代替 发布日期 :  1997-12-22 实施日期 :  1998-08-01

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GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 被代替 发布日期 :  1998-08-19 实施日期 :  1999-03-01

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GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 被代替 发布日期 :  1998-08-19 实施日期 :  1999-03-01

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GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 被代替 发布日期 :  2000-04-03 实施日期 :  2000-09-01

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GB/T 3651-1983 金属高温导热系数测量方法 被代替 发布日期 :  1983-05-02 实施日期 :  1984-03-01

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GB/T 3655-2000 用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法 被代替 发布日期 :  2000-10-25 实施日期 :  2001-09-01

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