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GB/T 1482-1984 金属粉末流动性的测定 标准漏斗法(霍尔流速计) 被代替 发布日期 :  1984-01-17 实施日期 :  1984-12-01

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GB/T 5027-1999 金属薄板和薄带塑性应变比(r值)试验方法 被代替 发布日期 :  1999-11-01 实施日期 :  2000-08-01

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GB/T 5249-1985 可渗透性烧结金属材料——气泡试验 孔径的测定 被代替 发布日期 :  1985-07-22 实施日期 :  1986-07-01

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GB/T 6146-1985 精密电阻合金电阻率测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-06-01

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GB/T 6147-1985 精密电阻合金热电动势率测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-06-01

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GB/T 6148-1985 精密电阻合金电阻温度系数测试方法 被代替 发布日期 :  1985-06-21 实施日期 :  1986-06-01

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GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法 被代替 发布日期 :  1995-04-18 实施日期 :  1995-12-01

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GB/T 6803-1986 铁素体钢的无塑性转变温度落锤试验方法 被代替 发布日期 :  1986-08-28 实施日期 :  1987-06-01

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GB/T 2105-1991 金属材料杨氏模量、切变模量及泊松比测量方法(动力学法) 被代替 发布日期 :  1991-11-06 实施日期 :  1992-07-01

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GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 被代替 发布日期 :  1984-04-12 实施日期 :  1985-03-01

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GB/T 11107-1989 金属及其化合物粉末 比表面积和粒度测定 空气透过法 被代替 发布日期 :  1989-03-31 实施日期 :  1990-03-01

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