本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量（厚度)的方法。本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量，其测量结果也可以用涂层厚度表示。本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢，给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度，并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。

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本标准规定了精密电阻合金电阻率测试方法。
本标准适用于在参考温度为20 ℃时，测量实心并具有均匀截面的精密电阻合金的体积电阻率和单位长度电阻。对于其他合金在此温度的电阻率的测量亦可参照采用。

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本文件描述了非接触涡流法测试半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的方法。
本文件适用于测试直径或边长不小于25.0 mm、厚度为0.1 mm～1.0 mm的硅、导电型砷化镓、导电型碳化硅单晶片的电阻率，以及衬底上制备的电阻不小于薄膜电阻1 000倍的薄膜薄层的电阻。单晶片电阻率的测试范围为0.001 Ω·cm～200 Ω·cm，薄膜薄层电阻的测试范围为2.0×103 Ω/□～3.0×103 Ω/□。本方法也可以扩展到其他半导体材料中，但不适用于晶片径向电阻率变化的判定。

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本文件规定了含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定方法。该方法也适用于制备样品以测定元素含量，例如石墨和氧，其测定会由于润滑剂的存在而受到干扰。
应用此方法的条件是：用于萃取润滑剂的适宜溶剂已知并易于得到。

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本标准规定了直接通电纵向热流法测量金属高温导热系数的测量原理、试样要求、测量设备及仪器、测量步骤、数据处理及测量结果、测量记录和报告等。 本标准适用于80℃～900℃温度范围内测量金属或合金无相变温度下的导热系数。

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本标准规定了利用拉曼光谱测试N型氮化镓衬底片载流子浓度的方法。本标准适用于在蓝宝石、碳化硅、硅、氮化镓材料上生长的N型氮化镓衬底片载流子浓度的测试。测试范围：1×1017 cm-3～1×1020 cm-3。

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本标准规定了锂离子电池正极材料镍钴锰酸锂的放电平台容量比率及循环寿命测试方法。本标准适用于锂离子电池正极材料镍钴锰酸锂放电平台容量比率及循环寿命的测试。

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本标准测试方法适用于具有一体化结构，呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi2212 与Bi2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时，磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中，磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面（如果是方形，任何一面均可）。测试过程中，被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。

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本标准规定了在低频磁场中测量磁性材料磁屏蔽效能的方法。
本标准适用于涉及的材料包括：金属磁屏蔽材料、复合磁屏蔽材料和各类涂层屏蔽材料。

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本标准规定了一种块状高温超导体俘获磁场（俘获磁通密度）的测量方法。
本标准适用于具有规则形状，诸如圆片、圆柱、矩形块和正六棱柱的大晶粒块状氧化物超导体在4.2 K~90 K温度范围内的俘获磁通密度评估。基于标准化的目的，只报告液氮温度下的俘获磁通密度。

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本标准规定了可渗性烧结金属材料的密度、含油率和开孔率的测量方法。 本标准适用于烧结金属多孔轴承以及用金属粉末通过压制和烧结而制成的机械零件。

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