本文件描述了锂离子电池正极材料低温电化学性能测试方法。
本文件适用于锂离子电池用钴酸锂、镍钴锰酸锂、镍钴铝酸锂、磷酸铁锂、磷酸锰铁锂等正极材料低温电化学性能的测试。

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本文件描述了电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性测试方法。
本文件定义了在规定温度(最高850 ℃)、规定持续时间(最高2 500 h)下进行热处理后，对电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性进行评估试验的通用原则和技术细节，包括原理、试样、试验步骤、测量结果及试验报告。
在热处理前后的环境温度(23±5)℃下测量规定性能，本文件适用于绝缘涂层的下列性能：
——附着性；
——表面绝缘电阻/层间绝缘电阻；
——叠装系数。
本文件不适用于绝缘涂层的其他性能，如焊接性能，或暴露于高温下可能引起的变色等其他性能。因是长周期测试，本文件不适用于特定订单材料的验收测试。

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本文件规定了钢产品单位面积上镀锌层质量试验方法的原理、试验溶液、试样、试验方法的选择、试验步骤和结果计算、再现性及试验报告。
本文件适用于纯锌镀层、锌铁合金镀层、锌镁合金镀层、锌铝镁合金镀层、铝锌合金镀层以及铝锌镁合金镀层等镀层产品。
铝硅合金镀层等其他镀层产品参照本文件执行。

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本文件描述了红外反射法测试重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的方法。
本文件适用于电阻率为0.000 6 Ω·cm～0.025 Ω·cm的衬底上制备的厚度大于0.5 μm的硅外延层厚度的测试。

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本文件描述了半导体单晶材料在波长0.2μm~300μm范围内透过率的测量方法。
本文件适用于硅、锗、磷化铟、硒化镉、硫化镉、碳化硅、氮化镓、氧化镓、蓝宝石、金刚石等半导体单晶材料透过率的测定。

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本文件描述了用比重瓶法测定金属粉末有效密度的方法。
本文件适用于金属粉末有效密度的测定。其他烧结金属材料(仅限于没有封闭孔隙的颗粒或部件)真密度的测定参考使用。

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本标准规定了在闭合磁路中使用环样或磁导计测量软磁材料的直流磁性能的方法。环样法适用于片材叠装的环样，或整体实心的环样以及烧结环样。

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本文件规定了采用差热分析仪或差示扫描量热计测定贵金属及其合金熔化温度范围的方法。
本文件适用于贵金属及其合金熔化温度范围的试验，试验范围为25 ℃～2 000 ℃。

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 本标准规定了利用双晶X射线衍射仪测试氮化镓单晶衬底片摇摆曲线半高宽的方法。  本标准适用于化学气相沉积及其他方法生长制备的氮化镓单晶衬底片。

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 本标准规定了用原子力显微镜测试氮化镓单晶衬底表面粗糙度的方法。  本标准适用于化学气相沉积及其他方法生长制备的表面粗糙度小于10 nm的氮化镓单晶衬底。其他具有相似表面结构的半导体单晶衬底应用本标准提供的方法进行测试前，需经测试双方协商达成一致。

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本文件描述了利用两个探头在硅片表面自动非接触扫描测试硅片的翘曲度和弯曲度的方法。
本文件适用于直径不小于50 mm，厚度不小于100 μm的洁净、干燥的硅片，包括切割、研磨、腐蚀、抛光、外延、刻蚀或其他表面状态的硅片，也可用于砷化镓、碳化硅、蓝宝石等其他半导体晶片翘曲度和弯曲度的测试。

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本标准规定了采用X射线定向仪测定蓝宝石单晶晶向的方法。本标准适用于测定表面取向大致平行于低指数晶面的蓝宝石单晶材料。

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本标准规定了建筑用铝合金隔热型材传热系数测定的术语和定义、方法原理、试验设备与装置、试样、测定和试验报告。本标准适用于建筑用铝合金隔热型材传热系数的测定。

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