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GB/T 5271.27-2001 信息技术 词汇 第27部分:办公自动化 现行 发布日期 :  2001-07-16 实施日期 :  2002-03-01

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本文件依据半导体器件对规定的机器模型(MM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度,建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。本文件相对于人体模型ESD,用作一种可选的测试方法,目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果,以此进行准确分级。本文件适用于半导体器件,属于破坏性试验。半导体器件的ESD测试从本文件、人体模型(HBM见GB/T 4937.26)或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外,HBM测试方法为所选方法。

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GB/T 3789.27-1991 发射管电性能测试方法 三音互调失真的测试方法 被代替 发布日期 :  1991-08-15 实施日期 :  1992-04-01

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