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GB/T 4937.27-2023 半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)

【国家标准】半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)

本网站发布时间： 2023-12-01

GB/T 4937.27-2023
现行
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标准简介

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适用范围：

本文件依据半导体器件对规定的机器模型(MM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度，建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。本文件相对于人体模型ESD，用作一种可选的测试方法，目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以此进行准确分级。本文件适用于半导体器件，属于破坏性试验。半导体器件的ESD测试从本文件、人体模型(HBM见GB/T 4937.26)或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外，HBM测试方法为所选方法。

基本信息

标准号：
GB/T 4937.27-2023
标准名称：
半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27:Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Machine model (MM)
标准状态：
现行
发布日期：
2023-05-23
实施日期：
2023-12-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
31.080.01
中标分类号：
L40

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替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
16 页
字数：
20 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
迟雷、高金环、高蕾、辛长林、彭浩、张瑞霞、黄杰、何黎、赵鹏、魏兵、刘洪刚、颜天宝、王介
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽高芯众科半导体有限公司、武汉格物芯科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
提出部门：
中华人民共和国工业和信息化部
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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