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【国家标准】 半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)

本网站 发布时间： 2023-12-01
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适用范围：

本文件依据半导体器件对规定的机器模型(MM)静电放电(ESD)所造成损伤或退化的敏感度，建立了半导体器件ESD测试和分级的标准程序。本文件相对于人体模型ESD，用作一种可选的测试方法，目的是提供可靠、可重复的ESD测试结果，以此进行准确分级。本文件适用于半导体器件，属于破坏性试验。半导体器件的ESD测试从本文件、人体模型(HBM见GB/T 4937.26)或GB/T 4937系列中的其他测试方法中选择。MM与HBM测试的结果相似但不完全相同。除另有规定外，HBM测试方法为所选方法。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4937.27-2023

  • 标准名称：

    半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分：静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 27:Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Machine model (MM)

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-05-23

  • 实施日期：

    2023-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《半导体器件　机械和气候试验方法　第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试 机器模型(MM)》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    20 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    迟雷 高金环 高蕾 辛长林 彭浩 张瑞霞 黄杰 何黎 赵鹏 魏兵 刘洪刚 颜天宝 王介

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽高芯众科半导体有限公司、武汉格物芯科技有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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