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空白详细规范是分规范的一种补充性文件,它包括对详细规范的格式、编排和最少内容要求。不遵守这些要求的详细规范,认为是不符合电子元件质量评定体系要求的标准。

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GB/T 28162的本部分适用于与电路连接的无引线或有引线柱的电子元器件的带式包装。本部分仅包括对元器件带式包装至关重要的带尺寸。
本部分还包括对单芯片产品(包括裸芯片和带凸点芯片(倒装芯片))包装的相关要求。

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GB/T 27700.1-2011 有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第1部分:总规范 被代替 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-05-01

GB/T 27700的本部分规定了用于能力批准程序或鉴定批准程序有质量评定的声表面波滤波器的试验方法和通用性要求。

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GB/T 27700.2-2011 有质量评定的声表面波(SAW)滤波器 第2部分:使用指南 现行 发布日期 :  2011-12-30 实施日期 :  2012-05-01

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GB/T 22318.1-2008 表面波谐振器 第1-1部分:总则和标准值 被代替 发布日期 :  2008-08-06 实施日期 :  2009-01-01

GB/T 22318的本部分适用于振荡器用声表面波(SAW)谐振器(以下简称“谐振器”)。 GB/T 2421、GB/T 2423应与本部分一起使用。 本部分涵盖了多种类型的谐振器通用的检测与试验方法及一般原则。 详细规范应给出适用于每种类型谐振器的试验方法及特殊要求。 当本部分与详细规范发生冲突时,应优先采用详细规范。

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GB/T 22318.2-2008 表面波谐振器 第1-2部分:试验条件 被代替 发布日期 :  2008-08-06 实施日期 :  2009-01-01

GB/T 22318的本部分适用于声表面波(SAW)谐振器(以下简称SAW谐振器)的试验方法。 本部分的4~6章给出了SAW谐振器电性能的测试方法细则。 本部分的7~20章给出了声表面波谐振器使用一定周期后,保持其电性能能力的试验方法。 完成上述规定的试验后,样品应能满足电性能要求。 附录A给出了定型试验方案及测试方法与顺序。也可用于拟定型型号产品的试验方案。使用该方案时应考虑下述问题: ——电性能要求; ——试验项目及程序; ——试验严酷度; ——为了验证是否所有的样品都成功地通过了试验,应规定在试验过程中和/或试验完成后需要进行检测的内容; ——进行试验的样品数量和不合格品的允许数量。 经过定型试验后的SAW谐振器不应在设备上使用或退回生产部门改作它用。

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本标准规定了两种方法,用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法,以便那些谱仪可使用更高的最大计数率,对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。

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GB/T 21007-2007 表面化学分析 信息格式 现行 发布日期 :  2007-07-26 实施日期 :  2008-03-01

本标准规定了一个补充GB/T 19499—2004/ISO 14976:1998的格式,用于产生、扩展和修正表面化学分析谱数据库的数据传输。这个格式应用于俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)的谱数据。

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本标准为电子设备用固定电容器系列国家标准的第21-1部分。

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本标准为电子设备用固定电容器的第22-1部分。

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本标准适用于电子设备中表面安装用无包封1类多层瓷介固定电容器,这些电容器有金属连接片或焊接带,并主要用于印制电路板或在混合电路上直接安装。 抑制电磁干扰电容器不包括在本分规范,包括在国家标准GB/T 14472—1998。

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本标准适用于电子设备中表面安装用无包封2类多层瓷介固定电容器,这些电容器有金属连接片或焊接带,并主要用于印制电路板或在混合电路上直接安装。 抑制电磁干扰电容器不包括在本分规范,包括在GB/T 14472—1998。

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GB/T 9634.4-2007 铁氧体磁心表面缺陷极限导则 第4部分:环形磁心 现行 发布日期 :  2007-02-09 实施日期 :  2007-09-01

本部分规定了符合相关总规范的环形磁心的表面缺陷允许极限导则。 本部分在磁心制造厂和用户之间有关表面缺陷的协调中可作为分规范使用。

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GB/T 19499-2004 表面化学分析 数据传输格式 现行 发布日期 :  2004-04-30 实施日期 :  2004-12-01

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