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【国家标准】 表面化学分析　X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪　强度标的线性

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适用范围：

本标准规定了两种方法，用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法，以便那些谱仪可使用更高的最大计数率，对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。

读者对象：

电子光学仪器材料表面化学分析检验技术人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 21006-2007

  • 标准名称：

    表面化学分析　X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪　强度标的线性

  • 英文名称：

    Surface chemical analysis—X-ray photoelectron and Auger electron spectrometers—Linearity of intensity scale

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2007-07-26

  • 实施日期：

    2008-03-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    35.240.70;71.040.40

  • 中标分类号：

    L67

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    23 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    刘芬、邱丽美、赵良仲、王海、宋小平、沈电洪

  • 起草单位：

    中国科学院化学研究所、中国计量科学研究院

  • 归口单位：

    全国微束标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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