本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。方法A以IEC 604445的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 604445或IEC 604448的π型网络或反射法为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注: 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型,也适用于其他晶体切型和振动模式,如双转角切型和振动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。
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GB/T 22318的本部分适用于声表面波(SAW)谐振器(以下简称SAW谐振器)的试验方法。 本部分的4~6章给出了SAW谐振器电性能的测试方法细则。 本部分的7~20章给出了声表面波谐振器使用一定周期后,保持其电性能能力的试验方法。 完成上述规定的试验后,样品应能满足电性能要求。 附录A给出了定型试验方案及测试方法与顺序。也可用于拟定型型号产品的试验方案。使用该方案时应考虑下述问题: ——电性能要求; ——试验项目及程序; ——试验严酷度; ——为了验证是否所有的样品都成功地通过了试验,应规定在试验过程中和/或试验完成后需要进行检测的内容; ——进行试验的样品数量和不合格品的允许数量。 经过定型试验后的SAW谐振器不应在设备上使用或退回生产部门改作它用。
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