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【国家标准】 石英晶体元件参数的测量　第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量

本网站 发布时间： 2024-01-02
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适用范围：

本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。方法A以IEC 604445的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。基准测量方法B依据IEC 604445或IEC 604448的π型网络或反射法为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。方法C是振荡器法，适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。注： 本文件规定的测量方法不仅适用于AT切型，也适用于其他晶体切型和振动模式，如双转角切型和振动模式(IT,SC)和音叉晶体元件(通过使用高阻抗测试夹具)。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 22319.6-2023

  • 标准名称：

    石英晶体元件参数的测量　第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量

  • 英文名称：

    Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.140

  • 中标分类号：

    L21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《石英晶体元件参数的测量　第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    33 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    王国军 宫桂英 毛晶

  • 起草单位：

    郑州原创电子科技有限公司、北京晨晶电子有限公司、武汉海创电子股份有限公司

  • 归口单位：

    全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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