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GB/T 15074-1994 电子探针定量分析方法通则 被代替 发布日期 :  1994-05-09 实施日期 :  1994-12-01

定价: 22元 / 折扣价: 19 加购物车

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GB/T 15075-1994 电子探针分析仪的检测方法 废止 发布日期 :  1994-05-09 实施日期 :  1994-12-01

定价: 19元 / 折扣价: 17 加购物车

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GB/T 4930-1993 电子探针分析标准样品通用技术条件 被代替 发布日期 :  1993-08-30 实施日期 :  1994-07-01

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GB/T 14070-1993 气体分析 校准用混合气体的制备 压力法 现行 发布日期 :  1993-01-11 实施日期 :  1993-11-01

定价: 65元 / 折扣价: 56 加购物车

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GB/T 13966-1992 分析仪器术语 被代替 发布日期 :  1992-12-17 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 13971-1992 紫外线气体分析器技术条件 被代替 发布日期 :  1992-12-17 实施日期 :  1993-07-01

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GB/T 12519-1990 分析仪器通用技术条件 被代替 发布日期 :  1990-11-06 实施日期 :  1991-08-01

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GB/T 5274-1985 气体分析 校准用混合气体的制备 称量法 被代替 发布日期 :  1985-08-01 实施日期 :  1986-06-01

定价: 24元 / 折扣价: 21 加购物车

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本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

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