本文件规定了使用电子探针定量分析无水碳酸盐矿物的仪器设备及材料、参考物质、试样制备、分析步骤、元素含量的计算、结果处理和分析报告。本文件适用于无水碳酸盐矿物的X射线波谱仪定量分析。

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本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

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本文件描述了用安装在扫描电镜（SEM)或电子探针（EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本文件也包含这方面的内容。本文件描述了多种能谱法定量分析方法。
本文件适用于利用参考物质或“无标样”程序对质量分数高于1％的、原子序数Z>10的元素进行定量分析。
本文件也给出了对原子序数小于11的轻元素分析方法的信息。
注： 当没有重叠峰，并且相应的特征X射线被强烈地激发时，能谱仪也可以测量质量分数在0.1％水平的元素。本文件主要应用于表面平整试样的定量分析，基本方法也适用于表面不平整试样的分析，但会引入附加的不确定度分量。
目前没有公认的轻元素的准确能谱法（EDS)定量分析方法，以下是几种常用于轻元素分析的 EDS方法。
a) 测量峰面积并对比峰强度。如附录 A 中所述的原因，这种方法对轻元素分析结果的不确定度比重元素大。
b) 当已知试样中的轻元素以化学计量的方式与重元素（Z>10)结合时，该轻元素的浓度可以通过与其他元素的相关浓度比进行测定。这种方法通常用于硅酸盐矿物试样中氧的测定。
c) 通过差值法计算浓度，即用100％ 减去能够分析元素的总百分数即为轻元素的百分数。这种方法只有在很好的束流稳定性和单独测量至少一个参考样品的条件下才能够应用，并且还需要精确测定试样中的其他元素。
附录A总结了重元素存在时轻元素定量分析中的问题。如果仪器上安装了能谱仪和波谱仪（WDS)，可以用WDS来克服EDS分析中的低能量谱峰重叠问题。然而，许多其他问题对于这两种技术来说都是共同的。

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本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。〓〓

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本文件规定了干式化学分析仪的术语和定义、要求、评价方法和评价报告。本文件适用于食品检测用干式化学分析仪的性能评价。本文件不适用于荧光免疫检测原理的干式化学分析仪。

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IEC 61010-1中的第1章均适用。本文件适用于实验室用分析和其他目的自动和半自动设备。自动和半自动实验室设备由仪器或系统组成，用于测量和改变样品的一种或多种特性或参数，执行的全部过程或部分过程不需要手动介入。构成该系统一部分的设备适用于本文件。

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本文件描述了硼硅酸盐玻璃中主要成分的化学分析方法，包括试剂滴定和分光光度计法、原子吸收光谱法（原子吸收分光光度法)、电感耦合等离子体发射光谱法和X射线荧光光谱分析法。
本文件适用于以二氧化硅、三氧化二硼、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、三氧化二铁、氧化钾、氧化钠、氧化锂、氧化锌、氧化钡、二氧化钛、二氧化锰、三氧化二砷、三氧化二锑、氧化铅、氧化镉、三氧化二铬为组成成分的硼硅酸盐玻璃的化学分析方法。

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本文件适用于测定气体混合物成分的气体分析器。本文件规定了气体分析器（以下简称分析器）术语、定义、要求和试验方法。本系列标准中其他部分，例如GB/T 18403.2，描述了特殊类型(利用高温电化学传感器）的分析器。本文件与GB/T 6592和IEC 60770中的规定保持一致。本文件适用于固定安装在任何场所(室内或室外）的分析器，也适用于试样处理系统和原位测量技术的分析器。本文件适用于由同一个制造商提供的整套分析器，其中包括分析器所有的机械、电气和电子部件。同样也适用于不同制造商提供的传感器单元和电子单元。 为了达到本文件的目的，由制造商提供或规定使用的任何交流或直流稳压电源，无论是否与分析器安装集成在一起，均被视为分析器的一部分。安全要求参见IEC 610101的相关规定。如果试样中有一种或多种成分是易燃的，且存在空气或含有氧或其他氧化成分的气体混合物时，则易反应成分的浓度范围被限制在易燃范围之外。用于过程控制系统中模拟直流和气动信号的标准范围参见IEC 603811和IEC 60382的相关规定。选择影响量测试值的方法参见IEC 60654相关规定。分析器的文件要求参见IEC 61187的相关规定。有关量、单位和符号的一般原则参见ISO 310，并见ISO 1000。本文件不适用于与分析器联用的记录仪、模数转换器或数据采集系统等附属装置。但是当两个或更多分析器结合在一起，作为一个系统出售，且只提供一个电子单元来连续测量若干个参数时，这些读出部件被认为是分析器的一部分，同样与分析器结合在一起的电动势电流或电动势电压转换器也包括在内。本文件的目的：--规定与连续测量气体成分的分析器性能有关的通用术语和定义；--统一用于制造和检验这类分析器性能特性的方法；--规定了确定功能特征所需要进行的试验及试验方法；--提供基本资料，以支持ISO 9001质量保证标准的应用。

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本文件规定了电子探针测量硫化物矿物成分的仪器设备、试样制备、标样、分析测试条件的选择、谱线重叠修正、分析步骤、结果处理和检测报告。本文件适用于在电子束轰击下稳定的硫化物矿物以及砷化物、锑化物、铋化物、碲化物、硒化物等矿物的电子探针定量分析。本文件适用于以电子探针进行的定量分析，也适用于安装了波谱仪的扫描电子显微镜进行的定量分析。

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本文件提供了功能安全系统应用指南中危害辨识和需求分析指导。
本文件适用于功能安全系统开发的概念阶段。

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本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

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本文件规定了分析仪器的术语和定义、仪器分类与命名、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于各种类型分析仪器。本文件也适用于与仪器配用或形成独立产品的样品处理、制备、信号处理传输和辅助分析的装置等。

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本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（铁质量分数大于95%）中硅、锰含量的校准曲线法。本标准适用于电子探针波谱仪，不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用。

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本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。本标准适用于对由校准参考物质上间距大小的可用范围决定的放大倍率进行校准。本标准不适用于专用测长型扫描电镜。

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本标准规定了工业、商业及类似厂房的配电系统中用于数据采集和分析的监测和测量系统的性能要求。
注： 这些系统是嵌入式的，或者可连接到能够汇总数据并提供自动分析的软件应用中。自动分析可以包括GB/T 23331-2012能源管理系统所要求的能源基准或能量绩效指标的计算，或者可在ISO 50002规定的能源审计期间使用，或可用于监测符合IEC 60364-8-1:2019要求的装置。这些设备还可以用于对LEED、BREEAM、HQE等符合标签进行认证。
本标准适用于：
——输入/输出数据集中器(IODC)；
——数据网关(DGW)；
——能源数据记录器(EDL)；
——能源服务器(ESE)。
本标准不适用于：
——仅消费市场(居住小区)或家庭中使用的设备；
——智能计量基础设施中使用的设备(如智能电能表)；
——智能电网基础设施中使用的设备；
——信息技术领域内作为IT服务器使用的设备；
——功率计量及监测设备：具有附加功能(如能源数据记录器功能)的性能测量和监控装置；
——相关产品标准已经涵盖的输入/输出数据集中器；
——通信协议及互操作性；
——电能质量测试仪(PQI)；
——用于供电侧电能质量数据采集和分析的软件。

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