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GB/T 36229-2018 光电保护装置可靠性考核方法和指标 现行 发布日期 :  2018-05-14 实施日期 :  2018-12-01

本标准规定了光电保护装置可靠性考核条件、考核方法、试验方法、考核指标、考核结果的判定和考核记录。本标准适用于光电保护装置的可靠性考核。

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GB/T 35931-2018 棉纤维棉结和短纤维率测试方法 光电 现行 发布日期 :  2018-02-06 实施日期 :  2018-09-01

本标准规定了光电法测定棉纤维棉结和短纤维率的方法。
本标准适用于原棉和棉条。

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GB/T 21194-2007 通信设备用的光电子器件的可靠性通用要求 现行 发布日期 :  2007-11-14 实施日期 :  2008-05-01

本标准规定了通信设备用光电子器件的术语、定义、可靠性评定的一般要求、试验程序和光电子器件的评定方法。 本标准适用于通信设备用光电子器件,包括激光二极管、发光二极管、光电二极管、雪崩光电二极管及其它们的组件。其他类似器件可参照执行。

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GB/T 43369-2023 民用大中型无人机光电任务载荷设备接口要求 现行 发布日期 :  2023-11-27 实施日期 :  2024-03-01

本文件规定了民用大中型无人机光电任务载荷设备与无人机之间机械接口和电气接口的一般要求和详细要求。
本文件适用于最大起飞重量不小于150 kg的民用无人机挂载的、回转直径120 mm~500 mm的光电任务载荷设备,其他无人机挂载的光电任务载荷设备参照使用。

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GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件规定了非本征硅单晶和锗单晶体内载流子复合过程中非平衡少数载流子寿命的光电导衰减测试方法。本文件适用于非本征硅单晶和锗单晶中非平衡少数载流子寿命的测试。直流光电导衰减脉冲光法可测试具有特殊尺寸的长方体或圆柱体样品,测试硅单晶的最短寿命值为50 μs,测试锗单晶最短寿命值为10 μs。高频光电导衰减法可测试棒状或块状样品,测试硅单晶和锗单晶的最短寿命值为10 μs。注: 直流光电导衰减方法有两种:直流光电导衰减脉冲光法和直流光电导衰减斩波光法(见附录A)。

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GB/T 7999-2015 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 现行 发布日期 :  2015-09-11 实施日期 :  2016-04-01

本标准规定了铝及铝合金中合金元素及杂质的光电直读发射光谱分析方法。本标准适用于铝及铝合金中锑、砷、钡、铍、铋、硼、镉、钙、铈、铬、铜、镓、铁、铅、锂、镁、锰、镍、磷、钪、硅、钠、锶、锡、钛、钒、锌、锆28个元素的同时测定,测定范围见表1。

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GB/T 44078-2024 光电系统中光学中心间距的测定 低相干干涉测量法 现行 发布日期 :  2024-05-28 实施日期 :  2024-12-01

本文件描述了采用低相干干涉法测量光电系统中光学中心间距的原理、测量条件、测量设备、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于光电系统中光学中心间距的测量,光学平板厚度的测量参照使用。

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GB/T 33768-2017 通信用光电子器件可靠性试验方法 现行 发布日期 :  2017-05-31 实施日期 :  2017-12-01

本标准规定了通信用光电子器件可靠性试验方法的术语和定义、一般要求、详细要求,包括试验的目的、设备、条件、程序、检验及失效判据。本标准适用于通信用光电子器件,其他领域的光电子器件也可参照使用。

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GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用) 现行 发布日期 :  1990-12-12 实施日期 :  1991-10-01

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GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管 试验方法 现行 发布日期 :  2009-05-06 实施日期 :  2009-12-01

本标准适用于在闪烁探测器或切伦科夫探测器中使用的固态光电二极管(PD)或光电二极管阵列(PDA)。本标准推荐的试验方法也适用于雪崩二极管(APD),但需要附加本标准描述的特殊试验方法。
本标准中描述的试验不是强制性的,但宜按这里描述的程序进行规定性能的试验。
本标准的目的是为闪烁探测器中使用的光电二极管建立标准试验方法,同时规定了供应商应提供的每种型号光电二极管的数据。

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本文件描述了量子点光转换膜光学性能的测试方法,包括方法原理、仪器和设备、测试样品、测试程序、数据处理、测试报告等。
本文件适用于液晶显示器件用量子点光转换膜光学性能的测量,其他类型光转换膜光学性能的测量参照执行。

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GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 现行 发布日期 :  2014-06-09 实施日期 :  2014-12-01

本标准适用于X射线光电子能谱仪的操作者分析典型样品。本标准帮助操作者完成整个分析过程,包括样品处理,谱仪校准和设定以及宽扫描谱和窄扫描谱的采集,并给出了定量和准备最终报告的建议。

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GB/T 43789.32-2024 电子纸显示器件 第3-2部分:光电性能测试方法 现行 发布日期 :  2024-03-15 实施日期 :  2024-03-15

本文件描述了用于段码、无源或有源矩阵单色或彩色类显示的电子纸显示器件(EPD)光电性能的测试方法。为了统一规范器件描述,提出了常规的可接受的相关参数说明。本文件的目的是列出程序依赖性参数,并描述了具体的测试方法和条件。

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GB/T 44221-2024 光学系统波前像差的测定 夏克-哈特曼光电测量法 现行 发布日期 :  2024-07-24 实施日期 :  2025-02-01

本文件描述了采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的原理及方法、测量条件、设备及装置、测量步骤以及测量数据处理。
本文件适用于采用夏克-哈特曼法测量光学系统波前像差的测量,也适用于光学零件面形偏差的测量。

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GB/T 42342.2-2023 粒度分布 液相离心沉降法 第2部分:光电离心法 现行 发布日期 :  2023-03-17 实施日期 :  2023-10-01

本文件描述了用液相离心沉降法测定颗粒粒度分布的方法。固体浓度由光束的透光测定,由此产生的信号可以转换成粒度分布。
本文件适用于典型颗粒粒径范围为0.1 μm~0.5 μm,密度高于液体密度,所有颗粒都具有相同密度和可比形状且在悬浮液中不发生化学或物理变化,可分散在液体中的粉体、浆体里的粉体和一些乳液的颗粒粒度分布测定。

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