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- GB/T 23729-2009 闪烁探测器用光电二极管 试验方法
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适用范围:
本标准适用于在闪烁探测器或切伦科夫探测器中使用的固态光电二极管(PD)或光电二极管阵列(PDA)。本标准推荐的试验方法也适用于雪崩二极管(APD),但需要附加本标准描述的特殊试验方法。
本标准中描述的试验不是强制性的,但宜按这里描述的程序进行规定性能的试验。
本标准的目的是为闪烁探测器中使用的光电二极管建立标准试验方法,同时规定了供应商应提供的每种型号光电二极管的数据。
本标准中描述的试验不是强制性的,但宜按这里描述的程序进行规定性能的试验。
本标准的目的是为闪烁探测器中使用的光电二极管建立标准试验方法,同时规定了供应商应提供的每种型号光电二极管的数据。
读者对象:
与闪烁探测器中使用的光电二极管的设计、检验和生产供应部门的有关人员。
标准号:
GB/T 23729-2009
标准名称:
闪烁探测器用光电二极管 试验方法
英文名称:
Photodiodes for scintillation detectors—Test procedures标准状态:
现行-
发布日期:
2009-05-06 -
实施日期:
2009-12-01 出版语种:
中文简体
替代以下标准:
被以下标准替代:
引用标准:
采用标准:
《核仪器——闪烁探测器用光电二极管——试验方法》(Nuclear instrumentation—Photodiodes for scintillation detectors—Test procedures,英文第1版) IDT 等同采用
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