本标准规定重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法。
本标准适用于衬底在23 ℃电阻率小于0.02 Ω·cm和外延层在23 ℃电阻率大于0.1 Ω·cm且外延层厚度大于2 μm的n型和p型硅外延层厚度的测量；在降低精度情况下，该方法原则上也适用于测试0.5 μm～2 μm之间的n型和p型外延层厚度。

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本标准规定了用消除光泽的漫反射法测定纸和纸板主波长和兴奋纯度。本标准适用于未加入荧光染料或颜料的纸和纸板。当仪器光源照射在试样上的紫外辐射量调准至与GB/T 7973规定的授权实验室提供的在CIE照明体D65条件下的荧光参比标准一致时，本标准可用于测定含有荧光增白剂的纸和纸板。

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本文件描述了半导体镜面晶片表面深度为5 nm以内金属元素的全反射X射线荧光光谱（TXRF）测试方法。
本文件适用于硅、绝缘衬底上的硅（SOI）、锗、碳化硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、锑化镓等单晶抛光片或外延片表面金属沾污的测定，尤其适用于晶片清洗后自然氧化层或经化学方法生长的氧化层中沾污元素面密度的测定，测定范围：109 atoms/cm2～1 015 atoms/cm2。
本文件规定的方法能够检测周期表中原子序数16（S）～92（U）的元素，尤其适用于钾、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、砷、钼、钯、银、锡、钽、钨、铂、金、汞和铅等金属元素。

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1.1　本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测试方法。
1.2　本标准适用于GaAs、InP（GaP、GaSb可参照进行）等化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测量。

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本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践，本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。
本文件描述了水(例如，饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰，按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水，大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间，取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响，且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。

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This standard specifies a test method of semiconductor nanopowder using UV-Vis diffuse reflectance spectroscopy.This standard is applicable to the measurement of diffuse reflectance spectrum of opaque semiconductor nanopowder.

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通常,由玻璃纤维增强塑料（glass fibre reinforced plastic, GRP）建造的小型船舶可能不利于雷达信号的反射。在雷达作为海上船舶使用的主要观测工具的情况下，国际海事组织认为，在GB/T 39085的本部分中，150 GT以下的小型船舶有必要配备雷达反射器以增强其雷达回波，从而提高船舶对雷达的可见性。
根据IMO MSC.164（78）决议的要求，本部分规定了雷达反射器的最低要求，旨在提高小型船舶的雷达回波。
本部分为该类雷达反射器的结构、性能、试验、检查和安装提供了规范。
注： 从IMO MSC.164（78）决议中摘录的要求以斜体印刷。

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本标准规定了利用积分球仪测量铝及铝合金表面的总反射和漫反射特性的方法。 本方法也适用于镜面反射(主光泽度)，镜面反射值和漫反射值的测量。

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本标准规定了单晶和铸造多晶的硅片及硅锭的载流子复合寿命的非接触微波反射光电导衰减测试方法。本标准适用于硅锭和经过抛光处理的n型或p型硅片(当硅片厚度大于1 mm时，通常称为硅块)载流子复合寿命的测试。在电导率检测系统灵敏度足够的条件下，本标准也可用于测试切割或经过研磨、腐蚀的硅片的载流子复合寿命。通常，被测样品的室温电阻率下限在0.05 Ω·cm~10 Ω·cm之间，由检测系统灵敏度的极限确定。载流子复合寿命的测试范围为大于0.1 μs，可测的最短寿命值取决于光源的关断特性及衰减信号测定器的采样频率，最长可测值取决于样品的几何条件及其表面的钝化程度。

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本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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本标准规定了半导体纳米粉体材料的紫外可见漫反射光谱测试方法。
本标准适用于不透光半导体纳米粉体材料漫反射光谱的测试。

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GB/T 31887的本部分规定了可用于自行车的照明和信号装置的功能、安全要求、光学性能和测试方法。
本部分适用于在公共道路上使用的自行车，特别是符合GB 3565与GB 14746的两轮自行车用和GB 17761电动自行车用的照明装置。

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本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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本标准规定了采用行波管法测量水声材料（或构件)样品声压反射系数、声压透射系数和吸声系数的装置、原理、条件和方法。本标准适用于平面层状水声材料（或构件)样品（以下简称样品)在变温、变压条件下100 Hz～3 150 Hz 频段的声压反射系数（或回声降低)、声压透射系数（或插入损失)和吸声系数的测量。

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本标准规定了激光光学元件反射率的测量方法。
本标准适用于激光光学元件高于99%的反射率的精确测量。

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