本部分规定了用红外线吸收法测定钛铁中的碳含量。本部分适用于钛铁中碳含量的测定。测定范围(质量分数):0.010％～0.400％。

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本标准规定了红外人体表面温度快速筛检仪的分类、要求、试验方法、检验规则、标志和使用说明书等。
本标准适用于红外人体表面温度快速筛检仪(以下简称筛检仪)的设计定型、生产与检验。

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本文件规定了红外成像人体表面测温筛查仪的要求、质量检验规则、随机文件和标志、包装、贮存等，描述了试验方法。本文件适用于红外成像人体表面测温筛查仪生产、检验和验收。

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本标准描述了红外硫系光学薄膜（以下简称“薄膜”）折射率的测试原理、测试条件、仪器设备、样品、测试步骤、数据处理与折射率计算、计算精度和测试报告。
本标准适用于红外硫系光学薄膜折射率的测试，其他光学薄膜折射率的测试可参照使用。

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本标准规定了近红外光谱法鉴别珍珠粉的术语和定义、原理、仪器与设备、样品选择、测试分析、模型评价及测试报告。本标准适用于淡水珍珠粉的定性鉴别和半定量分析，海水珍珠粉可参考本标准。本标准不适用于经过高温加工的珍珠粉和仲裁检验。

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GB/T 24583的本部分规定了红外线吸收法测定钒氮合金中的碳含量。
本部分适用于钒氮合金中碳含量的测定。测定范围（质量分数）：1.00%～15.00%。

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GB/T 24583的本部分规定了红外线吸收法测定钒氮合金中的氧含量。
本部分适用于钒氮合金中氧含量的测定。测定范围（质量分数）：0.10%～4.00%。

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本标准规定了近红外方法测定稻谷、糙米及大米粗蛋白质含量（干基）的术语和定义、原理、仪器设备、样品制备、测定、结果处理和表示、异常样品的确认和处理、准确性和精密度及测试报告的要求。
本标准适用于稻谷、糙米及大米粗蛋白质含量（干基）的快速测定。
本标准不适用于仲裁检验。

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本标准规定了闪光灯激励红外热像法无损检测的一般原则，适用于材料和结构的表面及近表面缺陷检测。

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本标准规定了运行过程中的机械设备和电气设备表面温度分布的红外热成像检测方法，其目的在于发现被检机械设备或电气设备的温度异常。
本标准未建立评价判据，具体的判据由检测方和用户双方协商确定。
本标准没有完全给出进行检测时的安全要求，使用本标准的各方有义务在检测前建立适当的安全和健康准则。

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This document describes the infrared reflectance method of thickness of silicon carbide epitaxial layers.
This document is applicable to the thickness test of silicon carbide homoepitaxial layers with  dopant concentration of less than 1×10 16 cm -3, which grown on the n-type silicon carbide substrate with dopant concentration of more than 1×10 18 cm-3.The test range is 3 μm-200μm.

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本文件规定了印刷用红外激发荧光防伪油墨产品的分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和环保、卫生要求。本文件适用于印刷品中防伪图文使用的红外上转换激发荧光防伪油墨。

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本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的N型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的P型硅单晶中间隙氧含量的测定。以常温红外设备测试时，氧含量（原子数）测试范围从1×1016 cm－3到硅中间隙氧的最大固溶度；以低温红外设备测试时，氧含量(原子数)的测试范围从0.5×1015 cm-3到硅中间隙氧的最大固溶度。

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本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。
本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018  cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试，测试范围为3 μm～200 μm。

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GB/T 24583的本部分规定了红外线吸收法测定钒氮合金中的硫含量。本部分适用于钒氮合金中硫含量的测定。测定范围（质量分数）：0.010%～0.150%。

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