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【行业标准】 工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法

本网站 发布时间： 2019-03-07
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适用范围：

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。

基本信息

  • 标准号：

    YS/T 1160-2016

  • 标准名称：

    工业硅粉定量相分析　二氧化硅含量的测定　X射线衍射K值法

  • 英文名称：

    Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2016-07-11

  • 实施日期：

    2017-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.045

  • 中标分类号：

    H12

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    12 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    李和平 胡耀东 袁威 金自钦 高珺 杨林 张晶 王书明 李扬 王钟颖 王建波

  • 起草单位：

    昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司

  • 归口单位：

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

  • 提出部门：

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)

  • 发布部门：

    中华人民共和国工业和信息化部
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  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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