【国外标准】 IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE/IEC 63003-2015
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标准简介

适用范围：

The scope of this standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505(TM) 1 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.

基本信息

标准号：
IEEE/IEC 63003-2015
标准名称：
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
英文名称：
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标准分类号

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出版信息

页数：
175 页
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