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【国家标准】 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定

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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 17473.1-1998

  • 标准名称：

    厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定

  • 英文名称：

    Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics—Determination of solids content

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    1998-08-19

  • 实施日期：

    1999-03-01

  • 出版语种：

    中文版

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040.01

  • 中标分类号：

    H15

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    5 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    张晓民

  • 起草单位：

    昆明贵金属研究所

  • 归口单位：

    中国有色金属工业总公司标准计量研究所

  • 提出部门：

    中国有色金属工业总公司

  • 发布部门：

    国家质量技术监督局
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