- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- H68 >>
- GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
文前页下载
适用范围:
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。
本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。
读者对象:
微电子技术用贵金属浆料生产、检测等相关技术人员。
标准号:
GB/T 17473.1-2008
标准名称:
微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
英文名称:
Test methods of precious metals pastes used for microelectronics—Determination of solids content标准状态:
现行-
发布日期:
2008-03-31 -
实施日期:
2008-09-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 1773-2025 片状银粉
- GB/T 1776-2025 超细铂粉
- GB/T 1777-2025 超细钯粉
- GB/T 17473-2025 电子浆料性能试验方法 导体浆料测试
- GB/T 1775-2025 超细金粉
- GB/T 26307-2025 银靶材
- GB/T 43660-2024 增材制造用铂及铂合金粉
- GB/T 45108-2024 再生铂族金属原料
- GB/T 45329-2025 点火电极用贵金属及其合金加工材
- GB/T 39810-2021 高纯银锭
- GB/T 4134-2021 金锭
- GB/T 4135-2016e 银锭
- GB/T 1774-2009 超细银粉
- GB/T 1777-2009 超细钯粉
- GB/T 18035-2000 贵金属及其合金牌号表示方法
我的标准
购物车
400-168-0010










