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【国家标准】 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定　X射线衍射线宽化法

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适用范围：

本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

读者对象：

有色金属及相关行业从业人员。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 23413-2009

  • 标准名称：

    纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定　X射线衍射线宽化法

  • 英文名称：

    Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2009-04-01

  • 实施日期：

    2009-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    19.100

  • 中标分类号：

    N78

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    14 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍

  • 起草单位：

    钢铁研究总院、首钢技术研究院

  • 归口单位：

    全国微束标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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