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【国家标准】 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

本网站 发布时间： 2018-08-01
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适用范围：

本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 35003-2018

  • 标准名称：

    非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

  • 英文名称：

    Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2018-03-15

  • 实施日期：

    2018-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    12 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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