【国家标准】纳米制造　关键控制特性　发光纳米材料　第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命

本网站发布时间： 2026-01-12

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标准简介

本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。
本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。

标准号：
GB/Z 37664.3-2025
标准名称：
纳米制造　关键控制特性　发光纳米材料　第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
英文名称：
Nanomanufacturing—Key Control Characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3:Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting(TCSPC)
标准状态：
现行
发布日期：
2025-12-03
实施日期：
1800-01-01
出版语种：
中文简体

起草人：
刘祖刚、蔡培庆、刘忍肖、康永印、赵飞、葛广路、庞代文、朱小波、郭海清、吕碧琪、张振星
起草单位：
深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、中国计量大学、国家纳米科学中心、广纳珈源(广州)科技有限公司、杭州美联医学股份有限公司、复旦大学义乌研究院、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、纳晶科技股份有限公司、天美仪拓实验室设备(上海)有限公司
归口单位：
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
提出部门：
中国科学院
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

【国家标准】 纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命