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【国家标准】 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

本网站 发布时间： 2022-07-01
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标准简介标准简介

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适用范围：

本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

读者对象：

　　需要测量薄晶体厚度的研究机构、检验单位以及其他有关部门。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 20724-2006

  • 标准名称：

    薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

  • 英文名称：

    Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    2006-12-25

  • 实施日期：

    2007-08-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.99

  • 中标分类号：

    N53

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    8 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    柳得橹

  • 起草单位：

    北京科技大学

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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