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【团体标准】 半导体器件可靠性强化试验方法

本网站 发布时间： 2023-11-10
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适用范围：

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

基本信息

  • 标准号：

    T/CIE 144-2022

  • 标准名称：

    半导体器件可靠性强化试验方法

  • 英文名称：

    Reliability enhancement test of semiconductor devices

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2022-12-31

  • 实施日期：

    2023-01-31

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.020

  • 中标分类号：

    L05

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    27 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    杨少华 颜佳辉 薛海红 牛皓 刘昌 王铁羊 吕宏峰 来萍 许少辉 赖灿雄 陈希宇 廖文渊 柳月波

  • 起草单位：

    工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院

  • 归口单位：

    中国电子学会可靠性分会

  • 提出部门：

    中国电子学会可靠性分会

  • 发布部门：

    中国电子学会
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  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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