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【国家标准】 半导体集成电路　直接数字频率合成器测试方法

本网站 发布时间： 2023-12-01
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适用范围：

本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 42848-2023

  • 标准名称：

    半导体集成电路　直接数字频率合成器测试方法

  • 英文名称：

    Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-08-06

  • 实施日期：

    2023-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.200

  • 中标分类号：

    L56

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    36 页

  • 字数：

    62 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    何善亮 蒲佳 杨阳 刘纪祖 范超 吴淼 王可 李锟

  • 起草单位：

    成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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