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【国家标准】 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

本网站 发布时间： 2024-01-02
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适用范围：

本文件规定了宇航用集成电路内引线采用气相沉积保护膜工艺后的气相沉积保护膜检验方法、电力学环境试验方法。
本文件适用于完成气相沉积保护膜的宇航用集成电路的试验。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 43227-2023

  • 标准名称：

    宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

  • 英文名称：

    Test methods for space vapour deposition protective film on semiconductor wire

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    49.040

  • 中标分类号：

    A29

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    21 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    赵元富 姚全斌 林鹏荣 冯小成 荆林晓 李洪剑 付明洋 林建京 曹燕红 刘思嘉 刘征宇

  • 起草单位：

    北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院

  • 归口单位：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 提出部门：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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