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【国家标准】 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

本网站 发布时间： 2024-01-02
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适用范围：

本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 43226-2023

  • 标准名称：

    宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

  • 英文名称：

    Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    49.140

  • 中标分类号：

    V25

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    17 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁

  • 起草单位：

    北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院

  • 归口单位：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 提出部门：

    全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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  • 推荐标准

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