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【国家标准】 嵌入式基板测试方法

本网站 发布时间： 2026-04-01
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适用范围：

本文件规定了嵌入无源或有源元器件基板的测试方法。
本文件适用于采用有机材料制造的嵌入无源或有源元器件基板的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 46821-2025

  • 标准名称：

    嵌入式基板测试方法

  • 英文名称：

    Test methods for device embedded substrate

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2025-12-31

  • 实施日期：

    2026-04-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.180

  • 中标分类号：

    L30

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《嵌入式基板　第1-1部分:总规范　测试方法》 MOD 修改采用

出版信息

  • 页数：

    40 页

  • 字数：

    63 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    张欣欣、田玲、唐鹏、边红丽、曹易、郭晓宇、彭镜辉、陈懿、陈长生、何栋、楼亚芬、薛超

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第十五研究所、广州广合科技股份有限公司、无锡市同步电子科技有限公司、北京尊冠科技有限公司、中国电子技术标准化研究院

  • 归口单位：

    全国印制电路标准化技术委员会(SAC/TC 47)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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