【国家标准】半导体器件　集成电路　第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

本网站发布时间： 2019-07-01

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标准简介

IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国家按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
编制详细规范时，将总规范中3.5和分规范中2.3和3.2的内容考虑进去。

标准号：
GB/T 13062-2018
标准名称：
半导体器件　集成电路　第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
英文名称：
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1:Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures
标准状态：
现行
发布日期：
2018-12-28
实施日期：
2019-07-01
出版语种：
中文简体

【国家标准】 半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)