- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L55 >>
- GB/T 13062-1991 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

【国家标准】 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
本网站 发布时间:
2019-07-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 13062-1991
标准名称:
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
英文名称:
Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedure标准状态:
被代替-
发布日期:
1991-07-05 -
实施日期:
1992-03-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 44791-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片减薄工艺过程和评价要求
- GB/T 44775-2024 集成电路三维封装 芯片叠层工艺过程和评价要求
- GB/T 44796-2024 集成电路三维封装 带凸点圆片划片工艺过程和评价要求
- GB/T 38446-2020 微机电系统(MEMS)技术 带状薄膜抗拉性能的试验方法
- GB/T 38762.1-2020 产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第1部分:线性尺寸
- GB/T 38762.3-2020 产品几何技术规范(GPS) 尺寸公差 第3部分:角度尺寸
- GB/T 41853-2022 半导体器件 微机电器件 晶圆间键合强度测量
- GB/T 42706.1-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第1部分:总则
- GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法
- GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法
- GB/T 43931-2024 宇航用微波集成电路芯片通用规范
- GB/T 43939-2024 宇航用石英挠性加速度计伺服电路通用测试方法
- GB/T 26113-2010 微机电系统(MEMS)技术 微几何量评定总则
- GB/T 26113-2010e 微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则
- GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理