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【国家标准】 纳米技术　表面增强拉曼固相基片均匀性测量　拉曼成像分析法

本网站 发布时间： 2024-12-02
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适用范围：

本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 44075-2024

  • 标准名称：

    纳米技术　表面增强拉曼固相基片均匀性测量　拉曼成像分析法

  • 英文名称：

    Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2024-05-28

  • 实施日期：

    2024-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    17.040.20

  • 中标分类号：

    A42

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    23 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震

  • 起草单位：

    苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司

  • 归口单位：

    全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)

  • 提出部门：

    中国科学院

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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