我的标准开发票会员介绍

400-168-0010

【国外标准】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method of components for handheld electronic products (IEC 47/1824/CD:2005)

本网站发布时间： 2025-06-05

DIN IEC 60749-37
废止
定价：
在线阅读

开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！查看详情>>

标准简介

标准简介

适用范围：

暂无

基本信息

标准号：
DIN IEC 60749-37
标准名称：
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method of components for handheld electronic products (IEC 47/1824/CD:2005)
英文名称：
标准状态：
废止
发布日期：
2001-12-01
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
归口单位：
提出部门：
发布部门：

其它标准

推荐标准

: 中国标准出版社微信公众号

: 中国标准在线服务网微信公众号

: QQ交流2群