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【行业标准】 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

本网站 发布时间: 2019-03-07
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适用范围:

本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定,测定范围见表1。

基本信息

  • 标准号:

    YS/T 1164-2016

  • 标准名称:

    硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

  • 英文名称:

    Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method
  • 标准状态:

    现行
  • 发布日期:

    2016-07-11
  • 实施日期:

    2017-01-01
  • 出版语种:

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号:

    81.040
  • 中标分类号:

    Q35

关联标准

  • 替代以下标准:

  • 被以下标准替代:

  • 引用标准:

  • 采用标准:

出版信息

  • 页数:

    8 页
  • 字数:

    10 千字
  • 开本:

    大16 开

其他信息

  • 起草人:

    王体虎、魏东亮、蔡延国、宗冰、季静佳、陈英、张云晖、张园园、邱艳梅
  • 起草单位:

    亚洲硅业(青海)有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、洛阳中硅高科技有限公司、新特能源股份有限公司
  • 归口单位:

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
  • 提出部门:

    全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
  • 发布部门:

    中华人民共和国工业和信息化部