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【国家标准】 纳米技术　亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法

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适用范围：

本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。
本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（<104 cm2/Vs）和方块电阻的测量。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 43682-2024

  • 标准名称：

    纳米技术　亚纳米厚度石墨烯薄膜载流子迁移率及方块电阻测量方法

  • 英文名称：

    Nanotechnology—Measurement methods for carrier mobility and sheet resistance of graphene films of sub-nanometer thickness

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

  • 实施日期：

    2024-07-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.50

  • 中标分类号：

    A42

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    20 页

  • 字数：

    32 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

  • 起草单位：

  • 归口单位：

    全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)

  • 提出部门：

    中国科学院

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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