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- GB/T 36474-2018 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法
【国家标准】 半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法
本网站 发布时间:
2019-01-02
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标准简介
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适用范围:
本标准规定了半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试的方法。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。
本标准适用于半导体集成电路领域中第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)功能验证和电参数测试。
标准号:
GB/T 36474-2018
标准名称:
半导体集成电路 第三代双倍数据速率同步动态随机存储器(DDR3 SDRAM)测试方法
英文名称:
Semiconductor integrated circuit—Measuring methods for double data rate 3 synchronous dynamic random access memory(DDR3 SDRAM)标准状态:
现行-
发布日期:
2018-06-07 -
实施日期:
2019-01-01 出版语种:
中文简体
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