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【国家标准】 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14863-1993

  • 标准名称：

    用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

  • 英文名称：

    Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    1993-12-30

  • 实施日期：

    1994-10-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.040.30

  • 中标分类号：

    L41

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    19 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    孙毅之 张若愚 谢重木 韩艳芬

  • 起草单位：

    机械电子工业部46所和4所

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    中华人民共和国机械电子工业部

  • 发布部门：

    国家技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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