本文件提供了采用辉光放电发射光谱法(Glow discharge optical emission spectrometry，以下简称GDOES，)进行深度剖析和体相分析的指南。本文件仅限于讨论刚性固体样品的分析，不包括粉末、气体或溶液的分析。结合现有和将来特定的标准方法，本文件旨在能够实现仪器的规范管理和测量条件的控制。尽管近年来有不同类型的辉光放电发射光源问世，但目前绝大多数使用直流和射频光源的辉光放电光谱设备仍以空心阳极的Grimm型为主。然而不同于最初Grimm型光源阴极接触样品正面的设计，一些光源的阴极接触常置于样品背面，例如Marcus型光源。本文件包含的条款同样适用于上述 2种和其他类型的光源，Grimm型光源仅作为一个实例。

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本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanning capacitance microscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanning spreading resistance microscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

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本标准规定了化工产品密度和相对密度测定的术语和定义，固体、液体和气体化工产品的密度和相对密度测定的方法。
本标准适用于一般化工产品密度和相对密度的测定。
本标准不适用于炭黑、开孔式泡沫橡胶或塑料等特殊状态的化工产品密度、相对密度的测定。

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本标准规定了用扫描电子显微镜及能谱仪对沉积岩自生粘土矿物的晶体形态及化学成分进行鉴定的方法。
本标准主要用于石油、天然气沉积岩中常见自生粘土矿物鉴定分析。其他自生粘土矿物鉴定分析可参照执行。

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本标准规定了电子探针仪（EPMA）和扫描电子显微镜（SEM）的X射线波谱仪（WDS）和能谱仪（EDS）对硅酸盐玻璃的定量分析方法。〖HJ*3/5〗
本标准适用于硅酸盐玻璃试样（包括碱金属的硅酸盐玻璃）的波谱法(WDX)和能谱法(EDX)的定量分析。

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本标准规定了用原子吸收光谱仪进行定量分析的通用规则。 本标准适用于利用原子吸收光谱仪对从常量到痕量化学元素的定量分析。

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本标准规定了使用高效液相色谱法进行的定性定量分析和提纯精制的通用规则。 本标准适用于使用高效液相色谱法对无机、有机化合物的定性定量分析及提纯精制，以及对高分子化合物的分子量的测定的一般要求。

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本标准规定了纳米材料超双亲性能检测方法的术语及定义、方法原理、仪器和试剂、样品制备、检测条件、检测步骤及结果评定、检测报告等。
本标准适用于检测经纳米技术处理，组成均匀、光滑、不变形（在液体表面张力的垂直分量的作用下）和各向同向性的固体表面超双亲性能。
本标准不适用于能够吸收所测液体的材料。

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本标准规定了纳米材料超双疏性能检测方法的术语和定义、方法原理、仪器和试剂、样品制备、检测条件、检测步骤及结果评定、检测报告等。
本标准适用于检测经纳米技术进行处理的材料的超疏水和超疏油性能，材料表面应是均匀、光滑、不变形（在液体表面张力的垂直分量作用下）和各向同性的固体表面。

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本标准规定了家用卫生杀虫用品的烟尘量试验方法。
本标准适用于固态燃香及烟制剂产品。

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本标准规定了一种准确测量印刷线路板PCB（printed circuit board）镀金手指表面污染物的方法--俄歇电子能谱法（AES）。本标准适用于具有一定导电性固体表面纳米尺度元素分布的准确测量。

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本标准规定了计算机层析成像（CT)技术用于致密岩石微纳米级孔隙结构成像的术语和定义、分析方法、技术要求、数据处理、分析报告内容与不确定度分析。本标准适用于泥页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩、煤岩等岩石的微纳米级CT分析，其他地质样品也可参照执行。

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本标准规定了用电子背散射衍射法(EBSD)对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求[1]。
注1： 使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。
注2： 该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。
注3： 对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。

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本文件描述了测量经化学机械抛光或外延生长的硅片上表面元素污染的原子表面密度的TXRF方法。
本文件适用于以下情形：
——原子序数从16（S）到92（U）的元素；
——原子表面密度介于1×1010 atoms/cm2~1×1014 atoms/cm2之间的污染元素；
——采用VPD（气相分解）样品制备方法得到的原子表面密度介于5×108 atoms/cm2~5×1012 atoms/cm2之间的污染元素（见3.4）。

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