【国家标准】表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求

本网站发布时间： 2017-09-01

GB/T 32998-2016
现行
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标准简介

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适用范围：

本标准规定了在电子激发绝缘样品的俄歇电子能谱测量中，描述荷电控制方法所需的最少信息，该信息也一并报告在分析结果中。参见附录A提供的现有的AES分析前或分析期间荷电控制的有用方法。表A.1对各种方法和途径进行了总结，并依方法的简单性排列。表A.1中的一些方法对大多数仪器是可用的，一部分则需要特殊的硬件，还有部分可能涉及样品的重装或变动。

基本信息

标准号：
GB/T 32998-2016
标准名称：
表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求
英文名称：
Surface chemical analysis—Auger electron spectroscopy—Reporting of methods used for charge control and charge correction
标准状态：
现行
发布日期：
2016-10-13
实施日期：
2017-09-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.40
中标分类号：
G04

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《表面化学分析　俄歇电子能谱　荷电控制与校正方法报告的规范要求》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
28 页
字数：
45 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
张增明丁泽军毛世峰曾荣光达博张鹏阮瞩唐涛
起草单位：
中国科学技术大学物理学院
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

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