本文件描述了稀土金属及其氧化物中钍、铀量的测定方法。本文件适用于稀土金属及其氧化物中钍、铀量的测定。测定范围(质量分数)：钍量0.000 05%~0.020%；铀量0.000 05%~0.020%。

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本文件描述了铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定方法。
本文件适用于金属铕中镧、铈、镨、钕、钐、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定。
本文件也适用于氧化铕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇量的测定。
本文件共包含三个方法：电感耦合等离子体发射光谱法(ICPOES，方法1)，测定范围见表1；电感耦合等离子体质谱法(ICPMS，方法2)，电感耦合等离子体串联质谱法(ICPMSMS，方法3)，测定范围见表2。
当三个方法的分析范围出现重叠时，推荐方法2作为仲裁方法。

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本文件描述了用酸从多晶硅表面浸取金属杂质，并用电感耦合等离子质谱仪定量检测多晶硅表面金属杂质含量的方法。本文件适用于太阳能级多晶硅和电子级多晶硅表面碱金属、碱土金属和第一系列过渡元素如钠、钾、钙、铁、镍、铜、锌、铝等杂质元素含量的测定，测定范围为0.01 ng/g。

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本文件规定了稀土铁合金（镧铁合金、铈铁合金、钆铁合金、镝铁合金、钬铁合金、钇铁合金）中稀土杂质含量的测定方法。
本文件适用于稀土铁合金（镧铁合金、铈铁合金、钆铁合金、镝铁合金、钬铁合金、钇铁合金）中稀土杂质含量的测定。测定元素及范围（质量分数）见表1。

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本文件描述了稀土金属及其氧化物中碳、硫含量的测定方法。本文件适用于稀土金属及其氧化物中碳、硫含量的测定。测定范围(质量分数)：碳0.002 0%~1.00%；硫0.002 0%~0.20%。

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本文件规定了辉光放电质谱法测定金属锗中痕量杂质元素含量的方法。本文件适用于金属锗中痕量杂质元素含量的测定，测定范围为0.001 mg/kg～2 mg/kg。

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本文件描述了用电感耦合等离子原子发射光谱法测定锆及锆合金中铝、铍、钴、铜、铬、钙、铁、锗、铪、钾、锂、锰、镁、钼、铌、镍、钠、铅、硅、锡、钽、钛、钒、钨、锌含量的方法。本文件适用于海绵锆、锆及锆合金中合金及杂质元素含量的测定。各元素测定范围见表1。

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本文件描述了用低温傅立叶变换红外光谱法测定硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的方法。
本文件适用于硅单晶中的Ⅲ、Ⅴ族杂质铝（Al)、锑（Sb)、砷（As)、硼（B)、镓（Ga)、铟（In)和 磷（P)含量的测定，各元素的测定范围（以原子数计)为1.0×10 10 cm -3～4.1×10 14 cm -3

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本文件规定了碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的二次离子质谱测试方法。本文件适用于碳化硅单晶中硼、铝、氮杂质含量的定量分析，测定范围为硼含量不小于5×1013 cm-3、铝含量不小于5×1013 cm-3、氮含量不小于5×1015 cm-3，元素浓度(原子个数百分比)不大于1%。

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本文件规定了稀土金属（除金属镱外)中氧、氮含量的测定方法。
本文件适用于稀土金属（除金属镱外)中氧、氮含量的测定。测定范围（质量分数)：氧 0.005 0%～0.30%；氮 0.002 0%～0.20%。

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本文件规定了稀土氧化物中全硅含量、稀土金属及其氧化物中酸溶硅含量的测定方法。
本文件适用于稀土金属及其氧化物中硅量的测定，包含钼蓝分光光度法（方法1)和电感耦合等离子体原子发射光谱法（方法2)。钼蓝分光光度法（方法1)适用于稀土氧化物中全硅含量及稀土金属及其氧化物中酸溶硅含量的测定，测定范围（质量分数)：0.001 0%~0.20%；电感耦合等离子体原子发射光谱法（方法2)适用于稀土金属及其氧化物中酸溶硅含量的测定，测定范围（质量分数)：0.010%~0.20%。
当本文件2个方法的分析范围出现重叠时，宜首选方法1作为仲裁方法。

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本文件规定了稀土金属及其氧化物中钠含量的测定方法。
本文件适用于稀土金属及其氧化物中钠含量的测定，包含火焰原子吸收光谱法（方法1)、电感耦合等离子体发射光谱法（方法2)和电感耦合等离子体质谱法（方法3)。火焰原子吸收光谱法测定范围（质量分数)：0.000 5%～0.025%；电感耦合等离子体发射光谱法测定范围（质量分数)：0.010%～0.20%；电感耦合等离子体质谱法测定范围（质量分数)：0.000 5%～0.025%。
当本文件3个方法的分析范围出现重叠时，首选方法1作为仲裁方法。

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本文件规定了钕中镧、铈、镨、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定方法。 
本文件适用于金属钕中镧、铈、镨、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定。
本文件也适用于氧化钕中氧化镧、氧化铈、氧化镨、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇含量的测定。
本文件共包含3个方法：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES，方法1)，电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS，方法2)，电感耦合等离子体串联质谱法（ICP-MS-MS，方法3)。方法1的测定范围见表1，方法2、方法3的测定范围见表2。
当三个方法的分析范围出现重叠时，首选方法2作为仲裁方法

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GB/T 18115的本部分规定了氧化镧中氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇含量的测定方法。
本部分适用于氧化镧中氧化铈、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇含量的测定。
本部分也适用于金属镧中铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇量的测定。
本部分共包含两个方法：方法1电感耦合等离子体原子发射光谱法，方法2电感耦合等离子体质谱法。方法1测定范围见表1，方法2测定范围见表2。

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GB/T 18115的本部分规定了氧化铈中氧化镧、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇含量的测定方法。
本部分适用于氧化铈中氧化镧、氧化镨、氧化钕、氧化钐、氧化铕、氧化钆、氧化铽、氧化镝、氧化钬、氧化铒、氧化铥、氧化镱、氧化镥和氧化钇含量的测定。
本部分也适用于金属铈中镧、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥和钇含量的测定。
本部分共包含三个方法：方法1电感耦合等离子体发射光谱法，方法2电感耦合等离子体质谱法，方法3电感耦合等离子体串联质谱法。方法1测定范围见表1，方法2测定范围见表2，方法3测定范围见表3。

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